Un método para discriminar la clase de un material plástico al preparar una pieza de prueba de un material plástico, medir el espectro infrarrojo de la pieza de prueba mediante reflectancia total atenuada, y comparar un espectro infrarrojo obtenido con aquél de un plástico conocido, en donde, la pieza de prueba tiene una cara de corte y la medición de espectro infrarrojo de la pieza de prueba es realizada al tocar un cristal para reflectancia total atenuada a la cara de corte de la pieza de prueba.
Palabras clave: medir el espectro prueba mediante reflectancia espectro infrarrojo pieza prueba
Nombre del Agente: SERGIO L. OLIVARES RODRIGUEZ; Pedro Luis Ogazón 17, San Angel, 01000, Alvaro Obregón, Distrito Federal
Titular: MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.
Prioridad:JP2001-89477 2001-03-27,
| Deposito en: | ![]() |
|---|---|
| Solicitud: | PA/A/2002/011763 |
| Presentacion: | 27/11/2002 |
| Tipo de Documento: | Patente |
| Concesión: | 31/08/2005 |