Consiste en monitorear areas expuestas a radiaciones ionizantes, basandose en un detector semiconductor y una electronica asociada que sea capaz de indicar los niveles de radiacion a la que dicho semiconductor este expuesto
Palabras clave: detector semiconductor semiconductor expuestas
Titular:
INSTITUTTO VENEZOLANO DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS
Código: 182581
Nacionalidad: VE / VENEZUELA
Domicilio: Caracas
Pais Residencia: VE / VENEZUELA
Tipo de Patente:A / INVENCION
| Pais | Solicitud | Fecha de Solicitud |
|---|---|---|
| Ve / venezuela | 1990-000011 | 04/01/1990 |
| Deposito en: | ![]() |
|---|---|
| Numero de Registro: | A052380 |
| Fecha de Registro: | 04/01/1990 |
| Fecha de Vencimiento: | 03/04/2007 |
| Estatus: | 751 |
Titular: | ||
|
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Clas. Internacional | ||
| P=G01T 1/24 | ||